7月8日-10日，中国机器视觉展在上海盛大举行，凌云光携多款创新展品精彩亮相，聚焦AI+Vision为工业制造注入新质生产力。

BeamMaster M2 光束质量分析仪

BeamMaster M2是一种用于测量和评估激光光束质量的仪器，通过测量M2质量因子等参数来表征激光光束的质量，一体化设计精致小巧，配置高精度电动导轨及高分辨率相机捕捉激光光斑的图像，通过图像处理软件分析光斑的形状、质心、有效直径、光束发散角、束腰直径、瑞利长度、M2质量因子等参数，实现快速一键式测量。广泛应用于光学、激光技术、光纤通信、材料加工等领域，精确控制和优化激光光束的质量。

高速真彩色线扫相机

SF6300系列万兆网线扫相机，使用最新多线TDI技术芯片，输出高灵敏度图像。相机分辨率8K/16K，支持黑白/彩色，最高行频可达200KHz，支持标准GenICam协议。设计多种应用专属ISP预处理功能，如分时频闪、多光场控制、空间校正、色彩矫正等算法功能。适用于锂电、光伏、PCB、印刷、半导体等高精端工业检测场景。

短波红外显微自动对焦系统

红外显微自动对焦系统是由凌云光最新研发的2k分辨率红外线扫相机搭配自动对焦系统。业内领先的2K分辨率红外短波线扫相机，对于硅基产品、膜材产品具备较好穿透能力，特别适合半导体等行业产品内部特征识别及缺陷检测。自动对焦系统重复定位精度可达0.15μm，模块化设计，可针对不同产品的精度、特征等需求定制方案。广泛适用于半导体显微、半导体内部缺陷检测、FPD线路检测等高精度需求场景。

电池片PL检测组件

SR-PD系列PL检测模组为高功率激光、相机、镜头一体机。基于光致发光原理，无接触检测方案，针对光伏电池片中的隐裂、雾状、发黑、吸盘印、石墨舟印、同心圆、皮带印、脏污等缺陷检测，同时不会造成二次隐裂缺陷，大幅度提升产线良率，减少不良片流入后段工序导致的物料浪费、产线停机。
此外现场还展出了16KTDI高速背照式线扫相机、高性能棱镜真彩色线扫相机、高性能板级面阵相机、应对恶劣环境面阵相机、边缘端智能处理器、红外、线扫全系列相机等创新产品及应用吸引了众多观众互动，沉浸式体验产品魅力。
未来，凌云光将以”AI+VIsion”技术为引擎，持续在机器视觉领域不断推陈出新，为行业客户提供最优的创新产品与服务，助力智能制造从感知互联走向万物智能，推动行业高质量发展。