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基于视觉与图像处理技术，在屏幕点亮的情况下对其进行自动化光学检测。应用于平面显示器的点灯缺陷检测（液晶、等离子、有机EL等），玻璃表面、金属表面的缺陷检测，金属膜、塑料膜的缺陷检测，有效检出低对比度的点、线、Mura等缺陷。对点缺陷可以稳定检测到26μm×26μm 以上的1/3 级子像素缺陷，较高检测10μm，对Mura 缺陷可以稳定检测2mm×2mm、对比度在3％以上的缺陷。该设备已经超过人眼的检测质量水平，并能够提供更高的检测效率。LCD广泛应用于智能手机、Pad、车载显示、游戏机、笔记本、数字相机屏、高清电视等诸多领域。
该方案对TFT型LCD在点亮情况下进行自动化光学检测。检测液晶屏显示中的暗点、辉点、暗线、辉线及Mura 等缺陷。该系统相比人工有四方面的优势：高稳定、高效率、高精度、高品质。
系统采用国际较好的高分辨率工业相机，稳定检测最小缺陷尺寸为26μm，较高可检测10μm 的缺陷，对Mura 缺陷可以进行量化分级。系统分为在线、离线两种模式。同时又可根据产线要求进行专门开发及多种相机数目升级，实现较好效率配置。视觉检测设备统一的检测标准消除了人工检测的主观性，检测结果客观，稳定可靠。该系统可有效提高TFT 工厂检测技术水平，提升产线效率，控制出厂合格率。